DCPD-U50は、材料試験中の金属のクラック深さを測定する最新のマイクロプロセッサベースの装置です。DCPD-U50の成功を受けて、この新しいユニットはお客様のコメントや提案を反映しており、その素晴らしい機能リストが示されています。
DCPD-U50は、ASTM 647規格で確立されたパルス直流電位差法(DCPD)を採用しています。
ASTM 647規格で規定された技術であるパルス直流電位差法(DCPD)を採用しています。この技術では、被試験金属に一定の電流を流し、その結果として試験片に生じる電圧降下を測定します。成長中の欠陥があると、この電圧が変化し、適切な校正を行うことで、欠陥の深さを測定することができます。
アプリケーション
動的材料試験
ストレイン/ストレス分析
動的材料弾性試験
疲労亀裂の発生
動的亀裂成長研究
状態監視
クラッククロージャー試験
応力腐食試験
スロークラック成長
クラックイニシエーション
クラックサイジング
特徴
連続DCPD
パルス式DCPDを標準装備
10k Hzまでの高帯域幅を持つ超精密差動信号増幅器
ゲインの精度は±0.1%です。
ゲイン:20〜50,000(ロータリースイッチによる)、精度1
トリガー機能、ピーク、トラフ、タイムインターバル、負荷サイクル波形の中間点を入力可能
大電流O/P、最大50Aまで対応。
プラグインモジュール
自動ブリッジバランス、無電源でバランスを保つEEROM付き
4極のベッセル・ローパス・フィルターを内蔵し,カットオフ周波数は1Hz,10Hz,100Hz,1k,10kHzと広帯域を実現
可変のDCオフセットとオートバランスによる定在波の除去
スタンダード、リファレンス、スペシメンの2チャンネル。
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