電子機器用落下試験機 AS-DT-150
小部品用高層式

電子機器用落下試験機 - AS-DT-150 - AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd - 小部品用 / 高層式
電子機器用落下試験機 - AS-DT-150 - AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd - 小部品用 / 高層式
電子機器用落下試験機 - AS-DT-150 - AI SI LI (China) Test Equipment Co., Ltd - 小部品用 / 高層式 - 画像 - 2
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特徴

応用
電子機器用, 小部品用
特性
高層式

詳細

小型の落下試験機です。 電気製品の輸送時ではなく、使用時の落下衝撃を評価するのに適しています。 落下試験は、包装落下と素地落下に分けられます。包装落下は主に輸送、保管ケースの製品が誤って落下した場合の耐衝撃性を考慮し、素地落下は主に通常の使用過程での製品が誤って落下した場合の耐衝撃性を考慮します。包装落下はまた、製品を保護するために垂直落下時間の能力の下でパッケージを反映することができます。落下高さ、落下回数と実験の方向は厳しさを反映している。国際規格は、異なる製品、異なる落下高さの要件に道を落ちる。ハンドヘルド製品(携帯電話、MP3など)のために100 cma150cmの間の落下高さのほとんどは、ハンドヘルド製品の勧告の< 2キロのIECは100 cmの落下高さが破損している満たすべきである、MILは、ハンドヘルド製品(携帯電話など)のための122センチメートル、インテル推奨落下高さは150 cmである。コンクリートやスチール滑らかな、硬い表面剛性、または大理石の床など、他の地面のために必要な、参照標準によると、落下。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。