ソフトウェアはユーザ・インタフェースを提供する、さまざまな機械入出力はで取られるスペクトルにスペクトルの処理およびZAFの計算をEDSの探知器と合うSEM提供する少なくとも2軒の図書館(DLL'S)とともに、作用する主要なプログラムから成り。
ソフトウェアは標準的なPCおよびオペレーティングシステム(Windows XP、7、等)で動く。 完全なZAFの分析は吸収係数、蛍光性の収穫のような基本的な変数(FP)の内部データベースを使用して、標準の有無にかかわらず、可能、推移確率、等。 また含まれているスペクトルの表示モジュールがある。
ソフトウェアはまたAmptek DPPハードウェアを使用してスペクトルの獲得を含んでいる。 ファイル(いわゆるEDXファイル)が日常分析、か要素のためにセットアップされ、再使用することができる結果各々の新しいスペクトル分析におよび根本的な方法は選ぶことができる。
ソフトウェアは第一次製品か単層の薄膜材料を分析できる。 分析は標準なしで結果が100%年に正常化することができればすることができる。 標準を使用するとき、厚さはまた断固としたである場合もあるまたは結果は正常化される必要がない。
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