X線回折計 D8

斜入射小角X線散乱実験用高解像度

D8 DISCOVERシリーズは、高精度と高いパフォーマンスに加え自由度を兼ね備えたX線回折プラットフォームです。一般的な粉末X線回折から最先端材料評価に至るまで、幅広いアプリケーションをカバーするため、すべてのD8 DISCOVERは高性能X線源、専用設計光学系、機能特化サンプルステージ、マルチモード検出器などの最新技術で最適な装置構成を構築することができます。 D8 DISCOVERは、結晶相の定性分析・定量分析をはじめ、構造解析、高分解能X線回折、反射率測定、逆空間空間マッピング、すれすれ入射測定 (Out-of-plane, In-plane)、すれすれ入射小角X線散乱 (GISAXS)、残留応力解析、集合組織解析、微小部回折など、X線回折・散乱をベースとしたあらゆる材料研究アプリケーションに対応できるように構成された多目的型X線回折プラットフォームです。 DIFFRAC.DAVINCIは、装置構成をリアルタイムモニターし、指定したアプリケーションに対して異なる組み合わせがあれば、ユーザーに適切な構成を案内します。対話式インターフェースを採用したDIFFRAC.SUITEソフトウェアパッケージは、測定プログラムの作成を効率的に促します。XRD分析に明るいユーザーにはすべての自由度を開放し、お好みの測定を実行することができます。強力な解析ソフトウェアは測定ソフトウェアと連動し、ボタンクリックのみで測定と解析を自動化し、解析結果の統計処理やパス-フェイル自動判別を可能にします。 D8ゴニオメーターを採用したD8 DISCOVERと、高精度ATLASゴニオメーターを採用したD8 DISCOVER Plusの2種類の基本プラットフォームをシリーズとしてラインナップしました。 人間工学に基づいた筐体設計により、D8 DISCOVERは実験室系X線回折装置の限界を超え、分析ニーズに最適化された装置セットアップを可能にします。