X線回折計 D8 DISCOVER

X線回折（XRD）SAXS斜入射小角X線散乱

汎用性と柔軟性にもっともすぐれたXRDソリューション。学術領域や産業分野にかかわらず研究、開発、品質管理などのアプリケーションをカバーします。 D8 DISCOVERは、最先端のテクノロジーを搭載した多目的X線回折計のフラッグシップモデルです。粉末、非晶質、多結晶材料からエピタキシャル多層薄膜まで、あらゆる材料の構造解析を大気雰囲気や雰囲気制御下で実現できるよう設計されています。 アプリケーション： 結晶相同定・結晶相定量、構造解析と精密化、結晶子サイズや結晶子歪などの微構造解析 X線反射率測定 (XRR)、すれすれ入射回折 (GIXRD)、面内回折 (In-Plane GID)、高分解能回折 (HRXRD)、すれすれ入射小角X線散乱 (GISAXS)、薄膜応力解析、結晶方位解析 (ODF) 残留応力解析、集合組織・極点図測定、微小部X線回折 (μXRD)、広角X線回折 (WAXS) 全散乱測定: Bragg回折、二体分布関数 (PDF)、小角X線散乱 (SAXS)