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赤外線分光器
MATRIX-F II
FT-NIR
プロセス
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特徴
タイプ
赤外線, FT-NIR
分野
プロセス, 監視用
その他の特徴
リアルタイム, 凹凸
詳細
受賞歴をもつMATRIX-F IIは、プロセス反応槽やパイプライン内の試料を直接分析することが可能なFT-NIR分光計で、プロセスに関する理解と制御を向上させることができます。 特長: • 数秒で正確なインライン分析結果を出力 • 複数成分を同時に分析 • 非破壊分析 • 6チャンネル光学マルチプレクサ(オプション) • 検量モデルのダイレクト移設 • 堅牢設計 • イーサネット接続と業界標準の通信プロトコル
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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