FT-IR分光器 INVENIO Series

研究開発用品質管理用高感度

INVENIOは、日常的な分析から最先端のアプリケーションまで幅広く対応する、新たなFTIRのスタンダードです。数多くの革新的な技術、洗練されたデザイン、柔軟性に優れる光学系などは、あらゆる研究者の要求を満足させ、次代の研究開発に貢献します。 主な特長： • 抜群のS/N • 生産性を向上させるタッチスクリーン対応ソフトウェア • Transit™ 透過試料室：2つの測定セットアップに同時に対応 • 幅広いスペクトル範囲（FIR、MIR、NIR、VIS/UV） • 時間分解分光法：ラピッドスキャン、スロースキャン、 ステップスキャン • MultiTect™：INVENIO本体に最大7本の検出器同時搭載可能、ソフトウェア制御 • RockSolid™：信頼性と精度に優れるブルカー独自の干渉計 • CenterGlow™ 赤外光源：最適化された光源スポットと耐久性 • Bruker FM：中赤外から遠赤外にわたる広域スペクトルを1回で測定 • 拡張性：スペクトル範囲や時間分解分光法などアップグレードに対応 • 複数のビームの入力と出力 • 実験室のベンチ向けに最適化された小型フットプリント