走査プローブ顕微鏡 LEAP 5000 series

研究用3D

比類なき3Dサブナノメーター分析性能を備えた3D原子プローブ顕微鏡 LEAP 5000はCAMECA社の最先端アトムプローブ顕微鏡で、金属、半導体、絶縁体など幅広い分野で優れた検出効率を発揮します。 LEAP 5000 は、マイクロスケールのデータセットからナノスケールの情報をわずか数時間で収集し、組成精度、精度、検出限界の向上、サンプルスループットの向上、歩留まりの向上、究極の再現性を実現します。 最適化された検出効率により、比類のない感度を実現 広い視野と検出の均一性 - 究極の3D空間分解能 最も正確な組成測定のための優れたマルチヒット検出機能 超高速データ収集のための高速かつ可変の繰り返しレート 堅牢で人間工学に基づいたプラットフォームにより、使いやすさを向上し、知識習得までの時間を短縮 ライブタイムモニタリングにより、すべての測定で最高品質のデータを確保 高度なレーザー制御アルゴリズムにより、サンプルの歩留まりが大幅に向上 LEAP 5000ファミリー LEAP 5000 XS は、新しい飛行経路テクノロジーと強化された検出器性能を組み合わせることで、前例のない検出効率～80％（このような分析技術では最高）を達成しながら、視野の改善を提供します！さらに、最大 2 MHz の繰り返し周波数を提供できる先進のレーザーパルスモジュールにより、LEAP 5000 XS は究極の効率性と生産性を実現します。