走査プローブ顕微鏡 EIKOS-UV™
研究用3D

走査プローブ顕微鏡
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特徴

タイプ
走査プローブ
応用
研究用
観察法
3D

詳細

アトムプローブは、研究および産業界において、日常的で高性能な3Dナノ解析を可能にします。 カメカは、30年にわたるアトムプローブ・トモグラフィ装置とアプリケーションの成功に基づき、迅速な合金開発とナノスケール材料研究のためのアトムプローブ顕微鏡EIKOS-UV™を開発しました。 EIKOSアトムプローブには以下の特長があります: 微細構造をナノスケールで評価する3次元トモグラフィー 高い空間分解能と高効率の単一原子検出 すべての元素とその同位体に対して同等の感度 定量的組成測定(サブナノからミクロンスケールまで) 電圧または電圧&レーザー構成で利用可能 標準的な試料作製法 EIKOSには2つの構成があります: ベースとなるEIKOSシステムは、優れた質量分解能とS/N比を提供するリフレクトロン設計を採用しています。あらかじめアライメントされた一体型対極は、使いやすさと高い信頼性を保証します。電圧パルスシステムは、様々な冶金アプリケーションにおいて非常に高いデータ品質を提供します。 完全に構成されたEIKOS-UVシステムは、ベースとなるEIKOSの優れた機能(電圧パルス式、リフレクトロンベースの機能、あらかじめ位置合わせされた対向電極)をすべて組み合わせ、さらにコンピューター制御の集光スポット設計を備えた355nmレーザーパルスモジュールを完全に統合し、より広いアプリケーション範囲へのアクセスを提供します。 ベースEIKOSシステムは、EIKOS-UVにフィールドアップグレード可能です。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。