光学式検査機
産業用欠陥

光学式検査機 - CEW - 産業用 / 欠陥
光学式検査機 - CEW - 産業用 / 欠陥
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
 

特徴

技術
光学式
分野
産業用
その他の特徴
欠陥

詳細

タッチパネル電極検査装置 高解像度カメラと高精度ステージを搭載した2次元検査装置。タッチパネルや光学フィルムの汚れ、欠陥、傷などを検出します。光学解像度は1.8μmまで対応しており、微細な検査にも対応可能です。刻印された対象物の検査が可能です。 特徴と用途 特徴 検査データと画像を自動記録します。 9,000万画素カメラを採用。 光学解像度が高く、微小な対象物まで鮮明に表示できます。 回路の電極上の不連続な部分を最適に検査できます。 使用方法 タッチパネル電極の欠陥検査 表面のキズや汚れの検査 回路のキズを検査したい

---

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。