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レーザー測定システム STA-CAC
変形用光学クリスタル

レーザー測定システム - STA-CAC - Changchun New Industries Optoelectronics Tech.Co., - 変形用 / 光学 / クリスタル
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特徴

物質的特性
変形用
技術
レーザー, 光学
測定製品
クリスタル

詳細

電磁波を吸収した後、電磁波エネルギーは熱エネルギーに変換され、材料の内部温度が変化し、結晶の内部熱吸収が不均一になり、変形が大きくなる。したがって、レーザー結晶材料の光吸収係数がレーザー出力と周波数変換効率に及ぼす影響を研究することは、重要な指針であり、実用的な価値があります。 二重光路の差分原理を利用して、試料通過前後のレーザー出力をリアルタイムでモニターし、試料を回転させて最適なテストポイントに到達させ、レーザー結晶の吸収係数を求めます。 - デュアルオプティカルパスの設計により、リアルタイムでレーザーパワーをモニターすることができ、試験結果の正確性を保証します。 - 異なる波長レーザーは、サンプルの特性に応じてマッチングされます。 - サンプルホルダーは測定するサンプルに応じてカスタマイズ可能 - 測定結果は直感的に理解でき、その後の処理や分析のために保存できます。 - 操作が簡単で使いやすい

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カタログ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。