TH2638シリーズは、テスト周波数を高めた新しい精密キャパシタンスメーターです。小型で持ち運びに便利な外観で、棚の上での使用に適しています。基本精度±0.07%、損失精度0.0005、最大試験周波数1MHz、4.3インチ液晶画面、選択可能な中国語-英語の操作インターフェースを備えたTH2638シリーズは、操作が簡単で、セラミックコンデンサの生産に迅速かつ信頼性の高いテストを提供します。また、低容量のものから高容量のものまで、あらゆる種類のコンデンサをテストすることができます。1つのコンデンサを数回テストした結果は、低値のコンデンサであってもかなり安定しており、正確です。テスターはSCPIコマンドセットに対応しており、マニピュレーターとスキャナーインターフェースで構成されています。スキャナーインターフェースは、各チャンネルのオープン/ショート/ロードエラーキャリブレーションをスキャンすることができ、最大で256チャンネルのスキャンが可能です。低周波では、信号レベル補正機能があります。インピーダンスが非常に小さく、信号源やテストケーブルの内部抵抗によってDUTの端子電圧が設定範囲よりも低くなる場合に、この機能によって設定範囲内にレベルを調整します。
特に生産ラインでは、DUT同士の接触不良をテスターで検出できる接触不良検査機能が追加されており、この作業に余分な時間を費やす必要がありません。実際の試験と同じ信号源機能を持ち、実際の試験ではDUTに試験信号を発生させることができ、DUTの接続・切断時には試験信号が発生しないため、故障接点に大電流が流れた場合の治具や試験ポイントの損傷を軽減することができます。
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