電源変圧器用テスト システム TH2840BX

特徴 1000回/秒(10kHz以上)の高速テストが可能で、リレーの動作時間も不要です。 最大20Vrmsのテストレベル バイアス電圧は±40V/±100mA/2Aを内蔵 最大288本のテストピンを装備（TH2840NXのみ） 業界をリードするユーザーエクスペリエンス。Linuxボトムレイヤー、ヘルプファイル内蔵 10.1インチ、1280×800の静電容量式タッチパネル グラフィカルなピン結合設定画面により、配線作業が不要に Lk設定では、リーケージインダクタンス端子を入力する必要がなく、より直感的な操作が可能です。 バランススキャン機能を強化、5点から10点へ レンジ切り替えに電子スイッチを採用し、高速・長寿命・ノイズレスを実現 LCR機能（オプション 本体内に約100Mの設定ファイル収納スペース、大容量のUディスク設定ファイル収納スペースを確保 初期モデルのファイルフォーマット変換に対応したホストコンピュータを提供し、互換性を確保 アプリケーション スイッチングトランスのスキャニングテスト、総合的な特性解析。 ネットワークトランスのスキャニングテスト、総合的な特性解析 ディスクリート受動部品（L,R,C）マルチチャンネル・スキャニング・テスト リレー駆動ラインパッケージ、接触抵抗マルチチャンネル・スキャニング・テスト 多チャンネル直流抵抗DCRスキャンテスト インピーダンスネットワークにおける複数の受動部品の総合的な試験解析