特徴
テストピンの数:12
周波数:20Hz~200kHz、15025点
信号レベル:10mV-2Vrms、100μA-20mArms、20mV-1Vrms、200μA-10mArms
テスト速度:max.40ms
4.3インチTFT液晶ディスプレイ
真新しいインターフェースデザイン
0〜±5V/50mAのバイアスソースを内蔵
TH2832XA: LCR + トランス・テスト・システム
TH2832XB:トランス・テスト・システム
TH2832XC:トランス・テスト・システム
ディスクリート受動部品(L、C、R)のマルチパス・スキャン・テスト
スイッチ・トランス・スキャン・テスト
ネットワークトランスのスキャンテスト
リレー駆動コイル、接触抵抗の多チャンネルスキャンテスト
マルチチャンネルDCRスキャンテスト
シンゲルパラメータループテスト
スキャンフィクスチャのリレー動作回数の確認
柔軟な偏差値推論法
スキャンフィクスチャ・リレーのセルフテスト
ストレージ内蔵。Uディスク:大容量の設定ファイル、CSV形式のテストデータ、GIF形式の画像を保存可能。
Uディスクによるファームウェアアップデート
PCレベルでの試験設定ファイル作成機能(オプション
パラメータ設定ファイルはTH2829AX-24と互換性があります。
RS-232、USBデバイスインターフェース
TH1831 24ピントランスフォーマースキャニングフィクスチャーに対応
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