皮膜厚測定システム MX3200遠隔円周精密
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特徴
- 物質的特性
- 皮膜厚, 遠隔, 円周, 精密, 摩耗用, 湾曲, 深度
- 技術
- 光学, ビデオ, 2D
- 測定製品
- 小型部品用, プリント基板用, ウェハー用, フィルム用, ガラス, 半導体用
- 応用
- 産業用, 研究所用, キャリブレーション用, 電子機器用, 自動車産業用
- その他の特徴
- 無接触, 高精度, 顕微鏡
詳細
顕微鏡測定機MX3200は、顕微鏡画像と従来のビデオ測定を組み合わせることで、微小形状の広範囲な測定を実現しました。電動ターレットを搭載し、レンズの切り替えにより、点、線、円、幾何公差など、様々な微小2次元サイズの測定が可能です。
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