皮膜厚測定システム MX3200
遠隔円周精密

皮膜厚測定システム - MX3200 - Chotest Technology Inc. - 遠隔 / 円周 / 精密
皮膜厚測定システム - MX3200 - Chotest Technology Inc. - 遠隔 / 円周 / 精密
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特徴

物質的特性
皮膜厚, 遠隔, 円周, 精密, 摩耗用, 湾曲, 深度
技術
光学, ビデオ, 2D
測定製品
小型部品用, プリント基板用, ウェハー用, フィルム用, 半導体用, ガラス用
応用
産業用, 研究所用, キャリブレーション用, 電子機器用, 自動車産業用
その他の特徴
無接触, 高精度, 顕微鏡

詳細

顕微鏡測定機MX3200は、顕微鏡画像と従来のビデオ測定を組み合わせることで、微小形状の広範囲な測定を実現しました。電動ターレットを搭載し、レンズの切り替えにより、点、線、円、幾何公差など、様々な微小2次元サイズの測定が可能です。

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ビデオ

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。