Sparkは、CIMSの検査エンジンを実行するプラットフォームであり、当社の最新世代の自動光学検査システムの原動力となっています。Spark 3.0は、ハードウェアとソフトウェアモジュールの両方を組み合わせた最新世代のプラットフォームです。Sparkテクノロジーの主な特徴は以下の通り:
-高度な画像処理アルゴリズムにより、PCB設計と表面状態のあらゆる組み合わせに対して最適なパフォーマンスを保証するカスタマイズされた検出が可能;
-マルチゾーンは、各ゾーンエレメントの検査性能を個別に最適化するために、Sparkが回路の異なる部分を分析し、グループ化する方法です;
-Multistepは、PCBステップごとに独立した設定で、検査の柔軟性をさらに高めます;
-高度な誤検出フィルタリング機構により、実際のスキャン前にCADデータを解析することで誤検出をフィルタリングし、AOIのセットアップ時間を劇的に短縮します;
-DST(デュアルスペーススレッショルド)は、AOIの感度を向上させる特別な画像処理方法です。
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