電界放出形走査電子顕微鏡 SEM4000Pro検査用実験用素材分析用
お気に入りに追加する
商品比較に追加する
特徴
- タイプ
- 電界放出形走査電子
- 応用
- 検査用, 実験用, 素材分析用, 素材用, 半導体用, バッテリー用
- エルゴノミクス
- 正立型
- 電子源
- ショットキー電界放出
- イオン源
- ガリウム
- 検出器の特徴
- 反射電子, 2次電子, EBSD
- オプションと付属品
- コンピューター制御式, USB
- その他の特徴
- 高解像度, 作業用広範囲視覚および距離, 超高真空, 超高解像度
- 倍率
1,000,000 unit
- 分解能
最少: 0.9 nm
最大: 2.5 nm
詳細
CIQTEK SEM4000 は、高輝度・長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載した分析用熱電界放出型走査電子顕微鏡です。
大きなビーム電流を連続的に調整できる 3 段階の磁気レンズ設計は、EDS、EBSD、WDS、およびその他のアプリケーションに明らかな利点をもたらします。低真空モードをサポートし、弱いサンプルまたは非導電性サンプルの導電率を直接観察できます。標準の光学式ナビゲーション モードと直感的な操作インターフェイスにより、分析作業が容易になります。
・高輝度、長寿命のショットキー電界放出型電子銃を搭載
•高分解能、30 kV で 1nm 分解能以上
•3 段階の磁気レンズ設計、広いビーム調整範囲
•*高性能低真空二次電子検出器、弱いサンプルまたは非導電性サンプルを観察
•漏れのない磁気対物レンズ設計により、磁性サンプルを直接観察できます
•標準の光学ナビゲーション モード
