走査型電子顕微鏡 SEM2100

実験用素材分析用半導体用

SEM2100は、タングステンフィラメント走査型電子顕微鏡（SEM）です。 操作プロセスを簡素化し、業界標準とユーザーの習慣に忠実なユーザーインターフェイスデザインを採用しています。最小限のソフトウェア・インターフェースにもかかわらず、包括的な自動化機能、測定・注釈ツール、画像ポスト処理管理機能、光学画像ナビゲーションなどを提供します。このデザインコンセプトは、「シンプルさは機能性を損なわない」という考えを完璧に体現しています。