タングステンフィラメント顕微鏡 SEM 3300走査型電子分析用素材分析用
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特徴
- タイプ
- 走査型電子
- 応用
- 分析用, 素材分析用, 半導体用, 地質学用
- エルゴノミクス
- 正立型
- 観察法
- 明視野式
- 構成
- 床置き
- 電子源
- タングステンフィラメント
- 検出器の特徴
- インレンズSE, 反射電子
- オプションと付属品
- コンピューター制御式
- その他の特徴
- 高解像度, 自動
- 倍率
最少: 1 unit
最大: 300,000 unit
- 分解能
最少: 2.5 nm
最大: 5 nm
- 長さ
926 mm
(36.5 in)- 幅
836 mm
(32.9 in)- 高さ
1,700 mm
(66.9 in)
詳細
SEM3300は新世代のタングステンフィラメント走査電子顕微鏡で、分解能は20kVで2.5nm以上です。特殊な電子光学設計により、タングステンフィラメントの分解能限界を突破し、1kVの低電圧で5nmの分解能に達します。
優れた画像品質を持ち、様々な視野範囲で高解像度の画像を得ることができ、大きな被写界深度を実現します。優れた拡張性により、顕微鏡イメージングの世界を探求することができます。
特徴
1.分解能：2.5 nm @ 20 kV, SE；4 nm @ 3 kV, SE；5 nm @ 1 kV, SE
2.倍率：1～300,000 x
3.加速電圧：0.1 kV～30 kV
4.「スーパートンネル：電子光学技術
5.低電圧高分解能イメージング：電子光学コラムビーム減速技術により実現
6.電磁＆静電コンボ対物レンズ：レンズ収差を効果的に低減し、低電圧での画像解像度を向上、磁性試料のイメージングに対応。
7.カラム内電子検出技術：信号電子の捕捉効率を向上させ、高S/N比を実現。
高分解能で高いS/N比を実現
8.オプティカルナビゲーション：ターゲットとなるサンプルの位置や関心領域を素早く特定します。
9.*AutoMap：完全自動の画像取得とスティッチング、広い視野のマッピング
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