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シリコン光学プリズム SICZPRISM series
全反射測定法

シリコン光学プリズム - SICZPRISM series - Crystran Ltd - 全反射測定法
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特徴

素材
シリコン
その他の特徴
全反射測定法

詳細

プリズムの在庫があります。 分光器用減衰全反射プリズム（ATRプリズム）。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。