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分光システム CIP-FICO-II

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独立したファイバーカップリングTx/Rxヘッド リアルタイムの分光測定 最大4.0THzの広帯域感度 透過および反射モード 複数のレンズオプションにより、様々な撮影条件に対応可能 正確なアライメントのためのレーザーガイドによる測定ポイントの表示 機能 スタンドオフ反射測定 非破壊検査を含む、分光および画像処理用途に最適 多くの誘電体材料を透過 厚みとコーティングの測定 オプションのXYイメージングステージにより、高速で便利なイメージング測定が可能

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。