自動試験装置 S500 BTE

プリント回路用

S500ベンチ試験装置（BTE）は、ライン交換可能ユニット（LRU）をテストし、障害のある最下位レベル交換可能ユニット（LLRU）を特定するようにカスタマイズされています。 障害のあるLLRUが検出されると、LLRU 用に特別に設計された別のアプリケーションプログラムが実行され、障害をさらに分離します。 S500は、オペレータアシストテストポイントプローブを使用して、特定のあいまいさグループに対してプリント基板（PCB）を診断してテストすることができます。 S500テストシステムは、PinPointテストシステムなどの別の診断 BTEで使用されるテストデータをエクスポートすることもできます。 ベースS500には、産業用 PCを含む市販の19インチラックハウジング、ナショナル・インスツルメンツ（NI）テスト・リソース、電源、およびテスト・ヘッド・レシーバ用の機器（PXI）シャーシ用ペリフェラル・コンポーネント・インターコネクト・エクステンションが含まれています。 テストプロセスの自動化と結果の評価に必要なソフトウェアとシステムコントローラは、内蔵 PCに保存されます。 計測器はアプリケーションプログラムによって制御され、信号を適用し、ユニット・アンダー・テスト（UUT）で測定します。 必要なテスト信号はすべてテストヘッドパネルで入手でき、インタフェーステストアダプタ（ITA）を使用してUUTに接続されます。 アプリケーションプログラムは、Diagnosys エグゼクティブソフトウェア（ES）を使用してアクセスおよび実行されます。 ESユーザーインターフェイスは、一般的なWindows OSタイプのメニューと機能を備えたグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）で、新規ユーザーにも簡単に入力できます。