ガラス表面検査機器 GWI

ウェハー用

GWIシステムは、生産サイクルの早い段階でガラスウェーハの欠陥を検出するために構築されました。 このシステムは、欠陥の検出に必要な精度を満たすために、高解像度のスマートカメラに基づいています。 ウエハの完全な評価はスマートカメラで行われます。 ガラスウェーハの画像が撮影され、カメラですぐに処理されます。 結果のデータと画像が PLC に転送されます。 ディスプレイをカメラに接続して、結果を画面に表示するオプションもあります。 評価プロセスを実行するには、イーサネット、RS232、電源I/O接続が使用できます。 電源I/OにはRS232インターフェイスも含まれています。 GWIシステムは、スクラッチ、粒子、基板誤差などのガラスウエハーの表面誤差を検出します。