集積回路試験機 CTP10

CTP10は受動の部品の有効なテスト24/7基のためのモジュラー測定のプラットホームである。それは前例のないダイナミック レンジ、速度および決断とsingle-sweep挿入損失およびリターン・ロスの測定を行うことを可能にする。CTP10はDWDMネットワークおよび光通信の集積回路（PIC）の塗布で使用される大きいポート番号の部品の性格描写のための理想的な器械である。 次GENプラットホームおよびモジュール CTP10プラットホームは10までのホットスワップ対応 モジュールを催す。それに多量のデータを扱い、処理するための埋め込まれたオペレーティング システムがある。 並ぶものがない性能 CTP10は市場の最も速い掃除された挿入損失およびリターン・ロスの測定を自慢する。完全なダイナミック レンジの性格描写は徹底的に効率を増加する単一の広がりで、行うことができる。CTP10プラットホームは波長可変レーザーとまた互換性がある掃除する速度を高くより500 nm/s。 強力で直観的なGUI その埋め込まれたソフトウェアは2つのスクリーンで表示可能な強力で、直観的なGUIを提供する:設置済みモジュールおよび外的なレーザーの表示のための1つ、および測定の結果の表示そして分析のための1。