光学式プロフィロメータ 35 nm - 3 µm | F42

薄膜分析用

Filmetrics F42は3ミクロン小さい点サイズとのそれぞれフィルムの厚さの、OSPのような、終わるone-millionポイントで地図を描くことができる。 統合されたCCDのカメラを使用して、生きているビデオは厳密な測定の位置を正確に示すことを容易にする。 特徴が視野にあったら、それを分析するためにそれのまわりで箱を単に引きなさい。 ピクセル幅の点サイズ 厚さの測定は表示されるひとつひとつのピクセルでなされ3ミクロン小さい点サイズをもたらす。 これは測定がチャネルおよびキャビティの最も狭いのでなされるようにする。 地図を描くこと 均等性はF42システムの地図を描く機能とこれらの構造で点検することができる。 百万人の個人の厚さ上の1つのかちりと言う音を使うと、読みやすい勾配の地図で計算され、表示することができる。 あらゆるout-of-range厚さの測定のユーザーを知らせている間平均厚さおよび他の統計量は自動的に報告される。 を使用して他の区域をすべて除いている間規準に、興味の特徴地図を描くことができる長所の合いなさい