表面欠陥制御装置 CIRCOFLUX
非破壊式

表面欠陥制御装置 - CIRCOFLUX - Foerster Instruments - 非破壊式
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特徴

応用
表面欠陥
特性
非破壊式

詳細

回転式プローブを備えたCIRCOFLUXセンサシステムは、0.1mm以上の小さな表面欠陥を確実に検出するため、精度は当社の強みです。 交互磁場磁化のため、追加の消磁は必要ありません。 4つのセンサシステムは、材料直径約10〜180mmをカバーしています。 これにより、幅広い試験作業に適しており、最大4m/sのスループット速度でACフラックス漏れ試験の最大有効性を保証します。 お客様のメリットを一目で一目 で確認:•熱間圧延面の強磁性ロッドの深さ0.1mmからの欠陥の最大検出感度 •テスト 材料の直径は10〜180mm •ピボットテストレバーは非直線材料にも耐え、テスト要素の損傷や破壊から保護します •テスト直径を集中的に調整することで、調整エラーのリスクを最小限に抑えます •自動寸法調整はセットアップ時間を短縮し、 生産性の向上

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