磁性粒子欠陥検出器 DEFECTOMETER M 1.837

磁性粒子欠陥検出器 - DEFECTOMETER M 1.837 - Foerster Instruments
磁性粒子欠陥検出器 - DEFECTOMETER M 1.837 - Foerster Instruments
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特徴

技術
磁性粒子

詳細

コンパクトなモバイルクラック試験装置 DEFECTOMETER M 1.837は、モバイルクラック試験を必要とするあらゆる状況に最適です。 このユニットは、わずか20µmから始まる欠陥分解能を持ち、多数の自動機能を持っています。 LEDスケール読み取りとLCDディスプレイは、白昼または完全な暗闇でも良好な読み出しを保証します。 35hとUSBポートの長い動作寿命により、手動の亀裂や硬さ試験や材料の分離に最適です。 一目でわかるメリット •20 µmからの欠陥分解能で高感度 •簡単な操作 •自動リフトオフ、ゼロ、チルト補正 •リフトオフプローブの警告 •LEDスケールディスプレイとLCDディスプレイの非常に優れた読みやすさ •アクティブ化による35時間操作 バックライト •測定結果の可視化と文書化のためのUSBポート •以前のDEFECTOMERのプローブを使用可能

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