全自動測定システム SUMMIT200

ウェハー用半導体用キャリブレーション用

カスケード社の新型200mmプローブシステムSUMMIT200は、単体または体積ウェーハの高精度測定データを可能な限り迅速に収集するために不可欠なシステムです。 研究開発、デバイス特性/モデリング、ニッチ生産アプリケーション向けに設計されたSUMMIT200プローバーは、超低ノイズ、DC、RF、mmW、THzアプリケーションの温度に対する高精度電気測定を可能にし、セミオートおよびフルオート操作により、正確なデータを迅速に取得することが可能です。 次世代プローブシステムは、PureLine™テクノロジーをサポートし、市場で入手可能な最も低いノイズレベルの1つを実現します。特許取得済みの AttoGuard® と MicroChamber® テクノロジーにより、低リークおよび低キャパシタンス測定が大幅に改善されています。新しい先進の200 mm高速ステージ、最大50枚のウェハを扱うカセット、高スループットテスト機能、-60℃～300℃の広い温度範囲により、科学者、研究開発およびテストエンジニア、生産オペレーターが仕事を迅速に完了するために必要なすべてが提供されています。 SUMMIT200プローブステーションは、自律的な半導体テストを可能にする独自の技術であるContact Intelligence™をサポートしています。革新的なシステム設計と最先端の画像処理の強力な組み合わせにより、時間や温度を問わず信頼性の高い測定データを実現する、作業者に依存しないソリューションを提供します。 幅広いアプリケーションと将来のあらゆるニーズに対応するアップグレードパスを備えたSUMMIT200は、既存および将来のデバイスやICの高速・高精度・大量測定を可能にする最先端の200mmプローブステーション・プラットフォームを提供します。