温度測定システム IMS-K-Power

ウェハー用半導体用堅牢

Keysight PDAを使用した包括的なターンキー統合測定システム（IMS）。 オンウエハーR&Dパワー半導体デバイス特性測定用 FormFactorとパートナーであるKeysightのアプリケーション専門家が、以下のような堅牢で完全なソリューションを構成するお手伝いをいたします。 - FormFactorのプローブシステム。TESLA300、TESLA200、T200、EPS150TESLA（他も対応可） - 手動、半自動、全自動プローブステーションオプション - FormFactor 分析プローブ：高電圧プローブ、高電流プローブ、ハイパワープローブ - T.I.P.S. "LuPo "高電圧/ハイパワープローブカード(オプション) - 60℃から+300℃までの完全なオーバー温度測定と自動化 - Keysightパワー・デバイス・アナライザ（PDA）。B1505A（他の製品も使用可能） - キーサイトの自動化／モデリング・ソフトウェアEasyEXPERT group+ （イージーエクスパートグループプラス - システム完成のために：ケーブル、アダプタ、取り付け金具など 業界で最も生産性が高く、高精度なパワー半導体デバイス特性評価システム Siや先進のGaN/SiCデバイスをインパッケージではなくオンウェハでテストする場合、研究開発エンジニアやテストオペレータは、高精度のデータを収集するためのいくつかの大きな課題に直面します。例えば、高電圧でのプローブとシステムのアーキング防止、大電流での低抵抗プローブとウェーハコンタクト、薄型ウェーハの特別なハンドリングなどが挙げられます。