ウェハー用測定システム EPS200MMW
顕微鏡

ウェハー用測定システム - EPS200MMW - FORMFACTOR - 顕微鏡
ウェハー用測定システム - EPS200MMW - FORMFACTOR - 顕微鏡
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特徴

測定製品
ウェハー用
その他の特徴
顕微鏡

詳細

67GHz以降のmmW、THz、ロードプル測定に対応した完全なソリューションです。 テラヘルツ帯のアクティブおよびパッシブコンポーネントの測定ニーズに対応したソリューションです。電気的精度や機械的安定性を犠牲にすることなく、最高のダイナミックレンジと指向性を実現します。 EPS200MMWは、テラヘルツ帯までのプロービングのための最もよく知られた方法と設計コンセプトを取り入れ、正確な測定結果を効率的に得るために必要なすべてを備えた専用プロービングソリューションです。強固な鋳造フレームと4点支持のプラテンにより、EPS200MMMWは優れた安定性を実現し、高精度を容易に達成することが可能です。研磨された花崗岩のベースは、熱や機械的な影響を排除し、優れた平坦性とシステムの安定性を確保します。内蔵の防振ソリューションとオプションの防振テーブルにより、測定中も高品質のコンタクトを維持します。独自のSIGMA™ オプションは、主要な測定機器メーカーのmmWヘッドとロードプルチューナーをシームレスに統合し、電気精度と機械的安定性を損なわずに最高のダイナミックレンジと指向性を実現します。SlimVue™ 顕微鏡は、小型パッドプロービングに必要な高倍率光学系の機械的干渉を軽減します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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