光学測定システム CM300xi-SiPh

全自動ウェハー用キャリブレーション用

シリコンフォトニクスウェハとダイレベルのプロービングソリューションを統合した300mmプロービングステーション CM300xi-SiPh 300 mmプローブステーションは、エンジニアリングおよび生産で実証された最適化された光学測定を、設置後すぐに開発なしで実現する、市場で初めて検証された統合測定ソリューションです。このユニークな自律型SiPh測定アシスタントは、光学ポジショニングハードウェアをプローブステーションに正確にキャリブレーションし、統合システムの性能を検証する画期的な機能一式を提供します。 高度なキャリブレーションを可能にする画期的なOptoVue、インテリジェントなマシンビジョンアルゴリズム、そして暗闇や遮蔽物、霜のない環境に対応する独自のSiPh TopHatとの組み合わせにより、複数の温度で真のハンズフリー自律キャリブレーションと再キャリブレーションを行うことができます。これにより、より正確な測定までの時間を短縮し、テストコストを削減することができます。 FormFactorが独自に開発したSiPh-ToolsとPhotonics Controller Interface（PCI）は、アライメント、データ収集、解析のための強力なソフトウェアツールを提供します。これには、表面およびエッジカップリング用途でファイバーやファイバーアレイを使用するために必要なすべてのアルゴリズムが含まれています。