プローブカード HFTAP Series

HFTAP K32は、1.0GHz、1.6GHz、2.2GHzのDRAMデバイスのテストに使用されるK10、K16、K22などのFormFactorの高周波テストプローブカードシリーズに加わる業界最高性能の製品です。フォームファクター独自の高度なPCB技術により、被試験デバイス（DUT）と自動試験装置（ATE）間の最速通信を可能にします。フォームファクターのマトリックスアーキテクチャを利用することで、HFTAP K32プローブカードは、他のフルウェハコンタクターでは達成できない速度でテストすることができます。 FormFactorのHFTAP K32プローブカードアーキテクチャの拡張機能は、次世代KGD（Known Good-Die）メモリの3.2 GHz/ 6.4 GbpsまでのウエハレベルスピードテストをDRAM顧客に提供することが可能です。近年、2.5Dや3Dの高度なパッケージング技術による異種混載システムの採用が、KGDの需要を促進しています。KGDテストの利点は、最終的に積層され組み立てられたパッケージが、1つの不良チップによって廃棄されることがないようにすることです。 この先進のMEMSプローブカード・アーキテクチャは、個々のチップだけでなく、ファインピッチ・インターポーザを含むHBMスタックで使用されるデバイスの電気性能と歩留まりを検証し、パッケージ全体の性能を保証するために使用されます。HFTAP K32プローブカード・ソリューションは、モノリシックシリコンダイの歩留まりを最適化する従来の方法がもはや適切でない先進パッケージの異種混載プロセスのどの段階においても、より多くのインテリジェンスを得るための力をお客様に提供します。HFTAPプローブカード・ソリューションは、デバイスの要件に応じて、より低い速度で利用可能です。