絶縁抵抗試験機 AutoSIR2+™

プリント基板用表面用

2年以上の研究開発期間を経て、表面絶縁抵抗の変化を測定するための次世代装置を発表します。 新しいAutoSIR2+™システムは、既存のSIR試験装置と比較して劇的な改善を遂げており、そのシールドされた精密電子機器により、1014 Ωまでの最先端の精度での抵抗測定が可能です。 1台のAutoSIR2+シャーシに1～16枚の測定カードを搭載でき、最大256×2点テストパターン、78×5点テストパターン、32×9点テストパターンを分～日単位で選択可能な間隔でモニターすることが可能です。各チャンネルは電流制限（1MΩ）されており、故障解析のためにデンドライトの成長を促します。頻繁に行われるモニタリングにより、回路アセンブリで起こっている電気化学反応の全体像が把握でき、早期の傾向分析によりテストの縮小が可能となり、テスト時間とコストを大幅に削減することができます。 主な機能 全256チャンネルの測定が30秒以内に可能 印加電圧+1V〜100V 測定範囲106 Ωから1014 Ω 測定方法選択したすべてのチャンネルで連続的に測定 測定試験間隔:最小1分から選択可能 IPC、IEC、JNC、その他のユーザー仕様など、既存のすべての試験仕様に対応可能 将来を見据えた設計 AutoSIR2+は64、128、256チャンネル構成が可能です。 接続時にセルフテストを実施 Windows 7, 8 & 10に対応した柔軟性の高いソフトウエア