X 線コンピュータ断層撮影装置 XE-L HE

高解像度

XE-L HEキャビネットは、工業分野におけるX線検査のための革新的なソリューションです。 この工業用X線透視・断層撮影システムは、さまざまなタイプのX線源やセンサーを同時に設置できるように設計されており、その汎用性、パワー、精度の高さが特徴です。 320kVまたは450kVのMINIFOCUS X線源は、複雑で大きな対象物や、厚みが大きく不均一な対象物の検査を可能にします。X線MICROFOUS線源を追加することで、小さな部品や数ミクロンの細部の高解像度分析が可能になります。 画像取得用のリニアセンサも追加可能なデジタルパネルを使用し、最先端の処理ソフトウェアと独自のフィルタとともに、高品質の画像を得ることができます。 アブソリュートマルチターンエンコーダを搭載した堅牢な7軸マニピュレーションシステムにより、シャットダウン後やシステム復旧後にリセットすることなく装置を使用することができます。 追加機能X-WIDE VIEWにより、8インチセンサーでも最大16インチまで視野を拡大することができます。 逆「L」字型のスライドドアにより、必要に応じて対象物を上置きすることができます。 強み 柔軟性 モジュール性 高画質 高度なマニピュレーター 簡単なローディング タッチスクリーンで簡単にプログラム可能なコントロールソフトウェア 専用モニターに標準装備の画像処理ソフトウェア ローメンテナンス オペレーターの安全性 広い検査エリア 企業情報システムとの相互接続