X 線コンピュータ断層撮影装置 XE-L

高解像度

XE-Lは、広い検査エリアと225kVまでの保護用鉛シールドにより、幅広い対象物の検査に適している、ジラルドーニの最高性能の標準システムです。 基本構成では、160kVまたは225kVのX線MINIFOCUS線源を装備していますが、小さな部品や数ミクロンの細部の高解像度分析用にX線MICROFOCUS線源を同時に装備することもできます。 画像取得にデジタルパネルを使用し、最先端の処理ソフトウェアと独自のフィルターにより、高品質の画像を得ることができます。 アブソリュートマルチターンエンコーダを備えた堅牢な7軸マニピュレーションシステムにより、シャットダウン後やシステム復旧後にリセットすることなく装置を使用することができる。 追加機能X-WIDE VIEWにより、8インチセンサーでも最大16インチまで視野を拡大することができます。 このモデルは、多様なニーズに対応するため、検査領域を拡大するカスタマイズが可能です。 強み 柔軟性 モジュール性 高画質 高度なマニピュレーター 簡単なローディング タッチスクリーンで簡単にプログラム可能なコントロールソフトウェア 専用モニターに標準装備の画像処理ソフトウェア ローメンテナンス オペレーターの安全性 広い検査エリア 企業情報システムとの相互接続 225kVまで使用可能な標準リード線シールド 特長 ペネトレーション 160mm Alまで（または30mm Feまで） 検査可能体積 最大Ø 700mm x H 1200mm 可搬重量 120kg 装備 - ミニフォーカスソース 160kVまたは225kV - 追加マイクロフォーカスソース 150kV - 16インチまでのフラットパネル 用途 様々な分野で使用可能 自動車 航空宇宙