InGaAsラインスキャンカメラC15333-10Eは、950 nm ~ 1700 nm の近赤外領域で感度を有し、リアルタイムでのインライン非破壊検査に対応したカメラです。
パッケージ内の液量・容量検査、入味検査、農産物のキズ・異物検査といったコンベアなどで搬送される対象物の検査や、半導体デバイスの高解像度検査、太陽電池等半導体材料の欠陥検査に高感度かつリアルタイムで対応します。
特長
• 950 nm~1700 nmまでの近赤外感度
• 水平画素数:1024 画素
• 最大ラインレート:40 kHz
• インターフェース:Gigabit Ethernet採用
• 画像補正機能を搭載(バックグラウンド補正、シェーディング補正)
用途
• 食品、農産物(傷み検査または品質選別、素材判別 等)
• 半導体(Siウェーハの内部欠陥検査、太陽電池のEL/PLによる欠陥検査 等)
• 産業(水分検出、液漏れ検出、入味検査 等)
仕様
• 型名 : C15333-10E
• 撮像素子 : InGaAsラインセンサ
• 有効画素数 : 1024 (H) × 1 (V)
• 画素サイズ : 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V)
• 有効素子サイズ : 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V)
• 読み出し速度 : 内部同期:40 kHz(最速ラインレート、露光時間21 μs 時)
• 読み出し同期トリガ:40 kHz
• 露光時間 : 21 μs~1 s (1 μs step)
• 外部トリガ入力 : 読み出し同期トリガ
• 入力コネクタ : SMAコネクタ、ヒロセコネクタ12 pin
• 画像改善機能 : バックグラウンド補正、シェーディング補正
• インターフェース : Gigabit Ethernet
• A/Dコンバータ : 14 bit
• レンズマウント : Cマウント
• 電源 : DC 12 V
• 消費電力 : 6 W (max.)
• 動作周囲温度 : 0 ℃ ~ +40 ℃
• 保存周囲温度 : -10 ℃ ~ +50 ℃
• 動作周囲湿度 : 30 % ~ 80 %(結露しないこと)
• 保存周囲湿度 : 90 % 以下(結露しないこと)