光学分光器 Nanosecond

プロセス過度吸収

時間分解吸収分光解析システムは、極短時間領域における過渡吸収測定を行う装置です。溶液、固体、薄膜などの光化学反応における反応中間体の生成消滅過程を追跡することができます。検出器にストリークカメラを使用し、シングルショットで多波長同時に時間分解測定することにより、不可逆的な現象をとらえることが可能です。また時間分解吸収スペクトルと過渡吸収時間分解分光イメージを同時に測定することもできます。検出装置に高ダイナミックレンジストリークカメラＣ13410を採用。これにより、微小な過渡吸収変化も高ダイナミックレンジ、高S/Nで測定することが可能になりました。 《Nanosecond system》時間分解能：7 ns、測定可能時間レンジ：20 ns～1 ms。 仕様 • システム名 : ナノ秒過渡吸収測定システム • 時間分解能 : <7 ns • 測定可能時間レンジ : 20 ns～1 ms • 白色光源 : キセノンランプ 150 W CW • 計測可能OD値（シングルショット） : 0.005（シングルショット時0.02以下） • 同時観測波長幅（W）と波長分解能（Δλ） : 100 gr/mm：W=510 nm Δλ <3.0 nm • 150 gr/mm：W=340 nm Δλ <2.0 nm • 300 gr/mm：W=170 nm Δλ <1.0 nm • 600 gr/mm：W=85 nm Δλ <0.5 nm • 測定可能な波長範囲 : 250 nm～750 nm • チャンネル数 : 時間軸：1016 ch • 波長軸：1344 ch