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熱衝撃テストチャンバー HCTE0032熱可塑性プラスチック管電子回路基板用半導体用
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特徴
- 試験の種類
- 熱衝撃
- 製品応用
- 熱可塑性プラスチック管, 電子回路基板用, 半導体用, 電気装置, 自動車用, 車両用, 材料試験機, 機器用, ワイヤー用
- 構成
- キャスター付き
- その他の特徴
- 保温効果, 低温, 高温用
- 温度
最大: 150 °C
(302 °F)最少: -65 °C
(-85 °F)- 長さ
最大: 1,980 mm
(77.95 in)最少: 1,910 mm
(75.2 in)- 幅
最大: 1,620 mm
(63.8 in)最少: 1,440 mm
(56.7 in)- 深度
最大: 2,140 mm
(84 in)最少: 1,825 mm
(72 in)
詳細
高温低温衝撃試験機は、被試験品を動かすことなく、高温と低温の急激な変化により、製品に悪い衝撃が加わるかどうかを試験するものである。金属、プラスチック、ゴム、電気・電子、自動車部品などの素材産業で必要な試験装置です。
規格適合性
GJB 150.4-1986低温試験。
GJB 150.3-1986高温試験。
GJB 150.5-1986温度衝撃試験。
GB / T 5170.2-1996 温度試験装置。
GB / T 2423.1-2001(IEC60068-2-1:1990) テストA:低温テスト方法。
GB / T 2423.2-2001(IEC60068-2-2:1974) テスト B: 高温テスト方法;
GB / T 2423.22-2002 (IEC60068-2-14:1984) test N: 温度変化試験方法 test Na.
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