MOSFETテスト システム MX300C

IGBT用自動

MX300Cシリーズは、パワー半導体用自動熱特性試験装置です。サンプリングユニット、温度制御ユニット、電源ユニット、システム制御ユニットから構成されています。主にIGBT(Si/SiC/GaN材料)、MOSFET、DIODE等のパワー半導体のパワーサイクル試験や耐熱性試験に適しており、パワー半導体の寿命中の性能を評価することができます。 機能 パワーサイクル試験 熱抵抗試験/過渡熱抵抗試験(Rth/Zth) Kカーブ試験 接合部対ケース熱抵抗 (RJC) ゲートリーク電流試験 (IGES) 製品の利点 定温プレートで高精度 リアルタイム故障診断機能 遠隔監視機能 多重保護：過熱、煙警報、冷却液漏れ検出など。 互換性IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR テスト。 UPS の電源システム: 電源遮断の状態の下でシステムおよびデータの保証を保障して下さい。 .電源サイクル試験 .熱抵抗試験/過渡熱抵抗試験 (Rth/Zth) .Kカーブ試験