蛍光分光器 X-RAY XDV-SDD

蛍光X線プロセス洋服

Fischerscope®のX線XDV®-SDDは非破壊的な機械化された測定の使用のために適している小さい集中のトレース分析のためのと同様、薄いコーティングのそして構成可能のX/Y段階およびZ軸がある高性能X線の蛍光性の測定単位である。 分析単位ができるコーティングは金、パラジウムおよび他のどの貴金属もその手段≤0.1のμm含んでいる。 単位はRoHSおよびWEEEの標準の指定に基づいて作動する。 それはまた電子工学と半導体工業の測定機能コーティングのための理想である。 Fischerscope®のX線XDV®-SDDは交換可能な開き、第一次フィルターとそして急速な脈拍プロセッサと同様、統合される。 それはまた極めて正確な分析を達成する、および十分な偵察の感受性来るケイ素の漂流の探知器と。