蛍光分光器 X-RAY 5000

EDXRFプロセス

FISCHERSCOPE®のX線5000は薄いコーティングの一定したインライン分析そして測定のために設計されているX線の蛍光性(XRF)測定システムである。 それは比例計数管の管およびケイ素の漂流センサーによって製造される。 単位は工程の間に迅速かつ簡単に目盛りを付け、500°C.までの熱い材料の測定を得ることができる。 特徴 • 生産ラインの連続的な測定のためのフランジの測定の頭部 • X線の探知器として比例計数管管、ペルティアー冷却されたケイ素のピン・ダイオードまたはケイ素の漂流の探知器 • 工程の工作物のマスターの速く、容易な口径測定直接 • 空気または真空の使用のため • 500° C (F) 930°まで非常に熱い基質材料の測定を許可する • 設計は最高の強さおよび修理可能に焦点を合わせる 適用の典型的な分野 • Photovoltaics (CIGS、シス形、CdTe) • 金属片、金属ホイルおよびプラスチックフィルムの薄いコーティングの分析 • 連続的な生産 • プロセスモニタリングはの電気めっきの生産ライン放出させ、 • 大き区域の測定