• 様々な膜厚測定のタスクに高精度に対応する特殊プローブをはじめ様々な種類の測定プローブ。
• 電磁式(DIN EN ISO 2178)、渦電流式(DIN EN ISO 2360)、DUALSCOPE H FMP150には磁気式ホール効果を追加。
• IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD or QUALICOATなどの規格に準拠した膜厚測定をサポート。
• プローブの自動認識および下地材の自動識別して測定方式を選択。
• 詳細にわたる測定結果表示、高解像度なタッチスクリーンディスプレイ搭載。
• グラフィカルで分かりやすい表示による広範な評価および統計機能。
• キャリブレーションデータを含む数千件の測定アプリケーションが保存できる大容量メモリー。
• Windows CEのOSにより、グラフィカルなユーザーインターフェース、ファイルとフォルダー構成で、直感的に操作ができます。
• USBで、PCやプリンターに接続。
アプリケーション
• 磁性金属上の非磁性皮膜、非磁性金属上の絶縁皮膜
• 鉄上の2層コーティング (塗膜/溶融亜鉛メッキ皮膜)の防食コーティングなどの塗装膜と亜鉛メッキ層を同時に測定し、それぞれの膜厚を別々に表示
• DUALSCOPE H FMP150:鉄や鋼上の厚い非磁性金属皮膜