皮膜厚測定システム TERASCOPE®

振動光学連続

有機および誘電単層および多層コーティングの厚さ測定およびテラヘルツ波による材料分析のための自動測定ソリューション 地域および国によって可用性が異なります アドバンテージ • 市場をリードする測定性能：最高精度と再現性のための最大6 THzの帯域幅* • 特許取得のClean-Traceテクノロジー：純度の高い測定結果のための連続的な乾燥空気の浄化 • 3Dスキャナー：円形の表面や複雑な幾何学形状でも高精度な位置決め • どんな振動よりも速い。1.6 kHz*のユニークな高サンプリングレートにより、過酷な環境でも正確な測定結果が得られます • 簡単な統合：ロボットや制御システム向けに設計されたハードウェアとソフトウェア • 高信頼性：頑丈で、低メンテナンス、24/7の運転に適した開発 • 低メンテナンス。電気光学測定による摩耗の低減 より正確で、より迅速。最大の稼働時間を確保するために設計された頑丈なTERASCOPE®は、市場をリードする測定性能を実現するために最大6 THzの帯域幅を備えています。特にマルチレイヤーシステムの測定用に設計された自動測定システムは、各個の層を検出し、その特性を非接触、非破壊、かつ正確に特定できます。そして、たった1つの作業ステップで完全自動で行います。 非常に高いサンプリングレートのおかげで、TERASCOPE®は外部の振動に独立して測定し、ベース素材や産業に関係なく、超短時間で測定結果を提供します。TERASCOPE®を品質保証プロセスに簡単に統合し、世界でも類を見ない精度、正確性、および速度で作業します。