二次電離質量分析計 AutoSIMS

分析用自動コンパクト

自動表面解析システム Hiden Analytical社は、ルーチンや反復分析を無人運転で行うことができる革新的な二次イオン質量分析計（SIMS）、AutoSIMSにおいて、完全に自己完結型の自動表面分析システムを開発しました。完全自動化されたX-Yステージと拡張ホルダーを備えたHidenのAutoSIMSは、24/7の無停止運転中に1日に数百のプロセスを実行できます。 シリコーンによる汚染 フレキシブルソーラーセル 外科用ステント 電子材料 ヒデンアナリティカルは、包括的なワークステーションからコンパクトなSIMSソリューションまで、無数の異なるサンプルタイプのナノスケールの深さプロファイリングと定量的な表面分析のためのSIMS装置を専門に扱っています。AutoSIMSは、長寿命の酸素源一次イオン銃とMAXIMアナライザーを搭載し、モジュール式のカセットサンプルホルダーとソフトウェア駆動のX-Yサンプルステージを追加した、Hiden SIMS製品群に共通する構成になっています。これにより、人手を介さずに表面スペクトルや3次元深さプロファイルを高信頼性で検出する基盤が整いました。 イオン銃の寿命が長いため、長時間の使用でも安定したビームが得られ、カセットホルダーとサンプルステージが連続したサンプル量を供給できるため、ハイスループットのバッチ分析が可能です。初心者でも、簡単なスプレッドシートを使って実験パラメータのマトリックスを調整することで、自動表面分析システムをプログラムすることができます。