マルチ パラメータ試験機

半導体

X-Yタイプ: 製品の機能 これらの高速は、高精度、高信頼性板に住んだ飛行の調査のテスターが理想的のために高混合する少量の生産をの。 四線式測定機能は乾燥した接合箇所をつかまえることと同様、ICの持ち上げられた鉛の検出を可能にする。 機能はFETs、リレーおよび3ターミナル電圧安定器の活動的な回路内テストに伸びる--今のところ挑戦的なテストとみなされる適用は慣習的な装置のために出る。 オプション機能は簡単な機能測定、境界スキャン、および水晶発振子の頻度カウント、等を行なうことを割り当てる。 柔軟性および未来の拡張性に留意している間設計されているX-Y ICTのプラットホーム!