絶縁試験機 1232

連続性低抵抗プリント基板用

ベアボードテスター 1232 パッシブデバイスとアクティブデバイスを内蔵したボードをサポートする高精度バッチフィクスチャ型テストシステム 概要 1232は、当社のインサーキットテスト技術を駆使し、LSIの信頼性試験、複雑な部品分離試験、高導通試験、絶縁試験などを実現するベアボードテスターです。 主な特徴 - (両面アライメント)テスト可能基板寸法50×50～330×330mm（クランプ部含む - SIM-LINEで生成された理論抵抗値と高精度な4端子抵抗測定の組み合わせにより、パターンの信頼性を保証する、抵抗を必要とするビルドアップ基板への対応 - 日置電機のインサーキットテスタとの連携で培った測定技術で、パッシブデバイスやアクティブデバイスが組み込まれた基板をサポートします。 - 340 × 330 mmの大きな作業領域を持つCSP/CPUクォーターパネルボードのサポート - フレキシブル基板に対応。 1232-11型は0.05mmまでの薄型基板に対応しています。 テンションクランプでフレキシブル基板も安定して固定できます。 仕様概要 最大ピン数 - 上下各4,096ピン（標準4,096ピンワンタッチコネクタを含む テストステップ数 - 最大10,000 サイクルタイム - 0.330秒/個（210μsec.連続×1024、115msec.アイソレーション）で測定 (*2,048個のエンドポイントと1,024個のネット) 最小パッド径φ10μm クランプ可能・運搬可能な基板寸法 ・厚み：0.05～2.5mm（全ての厚みに対応しているわけではありません。