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皮膜厚分析器 FT200 Series
金属監視用プロセス

皮膜厚分析器 - FT200 Series - Hitachi High-Tech Analytical Science - 金属 / 監視用 / プロセス
皮膜厚分析器 - FT200 Series - Hitachi High-Tech Analytical Science - 金属 / 監視用 / プロセス
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特徴

測定物
金属
応用分野
監視用, プロセス, 実験用, 品質管理用, 自動車用, テスト用, 冶金, 電子機器用
測定
皮膜厚, 化学成分
設定
卓上型
使用モード
半自動
技術
XRF

詳細

スマートなコーティング分析で、より速く、接続された測定を実現 卓上型蛍光X線分析装置FT200シリーズは、測定時間を大幅に短縮するために設計されました。サンプルのセットアップと測定レシピの選択に最も時間がかかることを認識し、日立のエンジニアは、効果的に「セットアップ」する一連の画期的な分析装置を開発しました。 自動化と革新的なソフトウェアがFT230とFT210分析計の特徴です。Find My Part™(ファインド・マイ・パーツ™)のようなスマート認識モジュールは、オペレーターが試料をセットし、部品を確認するだけで、後は装置が処理します。大型の基板であっても、パーツ上の正しい測定箇所を見つけ、正しい分析プログラムを選択し、結果を品質システムに送信します。時間とヒューマンエラーが削減され、より多くの分析をより短時間で行うことができるため、多忙な生産環境において100%検査がより現実的なものとなります。

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カタログ

FT200 Series
FT200 Series
7 ページ
*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。