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電界放出形走査電子顕微鏡 SU5000
分析用3Dインサイチュ

電界放出形走査電子顕微鏡 - SU5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 3D / インサイチュ
電界放出形走査電子顕微鏡 - SU5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 3D / インサイチュ
電界放出形走査電子顕微鏡 - SU5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH/日立 - 分析用 / 3D / インサイチュ - 画像 - 2
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特徴

タイプ
電界放出形走査電子
応用
分析用
観察法
BF-STEM, 3D, DF-STEM, インサイチュ
構成
床置き
電子源
ショットキー電界放出
検出器の特徴
2次電子, 反射電子
オプションと付属品
コンピューター制御式
その他の特徴
ナノテクノロジー用, 高解像度, 自動, 可変圧力走査型, フラットサンプル用, 研磨サンプル用, 地形測量用, アスベスト認識用, 同時取り込み用, 地球科学用, 高増粘性
分解能

1.2 nm

詳細

SU5000 & EM Wizardが創造するFE-SEMの新たな世界。 SEMを初めて使用されるユーザーに対しても「美しい像が得られる体験」、そして一人で習熟・熟達していける「成功体験」、熟達したユーザーにも豊富な機能で提供する新たな「体験」。 EM Wizardはさまざまな“User Experience”を提供し、新たなSEMの楽しさ、面白さを拓きます。 あらゆるユーザーに高分解能・再現性・スループットを提供する、新開発ユーザーインターフェース「EM Wizard」 EMWizadのスタンダードモードでは使用される頻度の高い5つのビーム/検出器条件を用意。 選択画面から条件を選択することで光軸調整などの作業なしにベストな光学条件で画像を取得 試料位置表示をよりわかりやすく表示する「マルチファインダー」搭載 サンプルへの制限を極力低減したデザイン • 大型試料(~200 mmΦ、~80 mmH)対応のドローアウト試料室を採用、試料室を開放しても対物絞りの汚染に配慮した構造です • 加熱・引張りステージなどの特殊アプリケーションにも簡便に対応可能 • コニカル対物レンズにより、大型磁性体試料観察やEBSD測定もよりスムーズに行えます 強力な光学系・検出系 • 低エネルギー観察時の分解能は1.6 nm@1 kV*1 • 真空/低真空ともに照射電流は最大200 nA以上*2 • 形状・組成・結晶学的情報を抽出する新開発反射電子検出器搭載*3

ビデオ

*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。