走査型電子顕微鏡 FlexSEM 1000 II

分析用素材検査用非金属介在物検査用

「先進のSEMをよりコンパクトに」 わずか45 cm幅のコンパクト設計ながら、4.0 nmの像分解能を実現。 新開発のユーザーインターフェース、電子光学系が高性能をさらに身近にします。 価格：お問い合わせください 取扱会社：株式会社 日立ハイテク FlexSEM 1000 IIは、新設計の電子光学系と高感度検出器により、加速電圧20 kVで像分解能 4.0 nmを実現しています。新開発のユーザーインターフェースは、明るさやフォーカスの自動調整機能の高速化により、短時間で多彩な観察を可能にします。また、電子顕微鏡の欠点であった視野探しの困難さを容易にする新ナビゲーション機能「SEM MAP」を搭載し直観的な視野移動を実現しています。 • 卓上設置可能なコンパクトサイズ*1でありながら、分解能4.0 nmを実現 • 独自の高感度二次電子、反射電子検出器、低真空検出器（UVD*2）により、低加速/低真空観察時の高画質化を実現 • ユーザーの熟練度を問わず高画質・高スループットを実現する新ユーザーインターフェース • 観察時の視野探しや試料上の位置把握をサポートする新ナビゲーション機能「SEM MAP」 • 迅速な元素分析を実現する大口径（30 mm2）窒素レスEDS検出器*2 小型高性能カラム コンパクトながらクラス最高分解能を実現しました。 高画質 低い加速電圧でも充分な明るさを得るためにエミッション電流を最適化する機能を搭載し、ノイズが少なくシャープな画像が得られるようになりました。 多彩な観察を高画質＆スピーディーに 初心者の方でも扱いやすいよう、分かりやすいGUIやオート調整機能を多数搭載しました。オートフォーカス（AFC）、オート明るさ（ABCC）ボタンを押すだけで、最適化された画像を提供します。（オート調整：従来比で約13秒の短縮を実現*3）もちろん、タッチパネルによる操作も可能です。 新ナビゲーションシステム 「SEM MAP」 「SEM MAP」機能は、観察時の視野探しや試料上の位置把握を強力にサポートします。内蔵カメラで撮影した画像を基にサンプルをナビゲートし、ワンクリックで観察箇所への移動を可能にします。 SEM MAP上で取り込んだ画像は自動で貼り付けられ、マップ表示されます