走査電子顕微鏡 TM4000 series

分析用測定原子番号コントラスト

卓上SEMは、次のステージへ。 もっと、高画質に、もっと使いやすく、見やすくをコンセプトに開発したTM4000シリーズはさらに機能を拡張したTM4000Ⅱシリーズを発売。 新たな観察・分析アプリケーションをご提供します。 中小企業等経営強化法に基づく支援措置の対象製品（生産性向上設備（A類型））です。 画像観察まで3分。目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。 観察・分析のフレキシビリティ 多彩なデータをオートで取得。切替も迅速！ 迅速な元素マップ*2の取得が可能 Camera Navi*を使えば、こんなに簡単 カメラナビ画像で迷わず視野探し、MAP機能で観察をサポート 基本操作はこんなに簡単・スピーディ 画像観察までわずか3分。 目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。 Report Creatorで手軽にレポート作成 画像とテンプレートを選択するだけでMicrosoft Word、Excel、PowerPoint 形式のレポートが完成 絶縁物試料でも前処理なしでそのまま観察可能です。 帯電現象を抑える「帯電軽減モード」 帯電しやすい試料は「帯電軽減モード」を用いることで、帯電を抑えて観察できます。 「帯電軽減モード」への切り替えは、ソフトウエア上からマウスクリックで行えます。 低真空で多彩な観察が可能 帯電しやすい粉末や含水試料などの試料も目的にあわせて観察できます。 低真空下での二次電子像（表面形状）観察を実現します。 前処理不要で絶縁物や水分・油分を含む試料の表面観察を実現 これまでの導電性試料の観察だけでなく、絶縁物や含水・含油試料まで前処理なしでそのまま観察できます。二次電子像⇔反射電子像の切替も素早く行えます。 高感度低真空二次電子検出器 高感度低真空二次電子検出器（UVD）を採用。電子線と残留ガス分子との衝突によって発生した光を検出することにより、二次電子情報を持った画像を観察することができます。また、本検出器をコントロールすることにより、電子線照射により発生した光を検出することでCL情報（UVD-CL：CL情報を含んだ画像）を取得することが可能です。